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納米位移台通過一係列微觀調節裝置和高靈敏度的傳(chuan) 感器來測量物體(ti) 的微小位移或變形。通常，納米位移台使用激光幹涉儀(yi) 或壓電傳(chuan) 感器等高精度傳(chuan) 感器來測量物體(ti) 的位移。
激光幹涉儀(yi) 是一種基於(yu) 激光幹涉原理的測量技術，它可以檢測到微小的位移或變形。它包括一個(ge) 激光源、一個(ge) 分束器、一組反射鏡和一個(ge) 探測器。激光經過分束器後，被分成兩(liang) 束，分別照射到被測物體(ti) 和參考麵上，然後反射回來並再次匯聚在探測器上。通過比較兩(liang) 束激光的相位差異，就可以測量出物體(ti) 的微小位移。
壓電傳(chuan) 感器是一種利用壓電效應來測量位移的傳(chuan) 感器。當壓電材料受到外界力的作用時，它會(hui) 產(chan) 生電荷分布的變化，從(cong) 而產(chan) 生電勢差。通過測量這種電勢差的變化，就可以確定物體(ti) 的微小位移。
在納米位移台中，這些傳(chuan) 感器被安裝在微觀調節裝置上，可以調整物體(ti) 的位置和方向，以便進行準確的測量。通過將納米位移台與(yu) 其他實驗設備結合使用，例如掃描電子顯微鏡或原子力顯微鏡等，可以獲得更準確和詳細的物體(ti) 位移信息。
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