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線性納米位移台的分辨率是指其能夠準確測量的位移量。分辨率的評估可以通過以下幾種方法進行：
使用校準器件：可以使用已知長度的校準器件（如光柵標尺、脈衝(chong) 編碼器等）來檢測線性納米位移台的位移，並比較測量結果來評估分辨率。
使用標準樣品：選擇具有已知特征的標準樣品進行測量，並與(yu) 已知值進行比較來評估分辨率。
計算分辨率：線性納米位移台的分辨率可以通過分析其機械結構和控製係統的性能來計算。例如，如果線性納米位移台的控製分辨率為(wei) 0.01微米，那麽(me) 它的分辨率就大致在這個(ge) 範圍內(nei) 。
需要注意的是，不同型號的線性納米位移台其分辨率可能會(hui) 有所不同，因此在使用前應該仔細閱讀其規格和性能指標。此外，在實際應用中，還需要考慮到測量環境和幹擾因素等因素的影響。
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