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納米位移台探針通常指的是用於(yu) 掃描探測物體(ti) 表麵形貌、化學成分等信息的微型探頭。在掃描探測過程中，探針與(yu) 樣品表麵之間會(hui) 存在一定的作用力，探針的形狀、尺寸和材料都會(hui) 對探測結果產(chan) 生影響。常用的探針包括原子力顯微鏡（AFM）探針、掃描電子顯微鏡（SEM）探針等。
納米位移台使用探針可以獲得高分辨率的表麵形態和性質信息，因此被廣泛應用於(yu) 材料科學、生物醫學、納米技術等領域的研究和應用中。例如，在材料科學領域，可以使用納米位移台探針來研究材料的表麵結構、形貌、力學和電學性質；在生物醫學領域，可以使用納米位移台探針來研究細胞、蛋白質和DNA的形態、力學和電學性質。
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