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納米位移台細調模式通常是指在已經完成初步調整和定位之後，對於(yu) 微小的位移調整進行精細控製的方式。
納米位移台的細調模式一般有以下幾種：
輪廓掃描模式：在該模式下，操作人員可以通過觀察樣品的輪廓來進行微調。可以使用高倍率的顯微鏡或者掃描電子顯微鏡等設備來實現。這種方法適用於(yu) 樣品表麵形貌的調整。
基於(yu) 圖像處理的自動微調模式：這種方法利用圖像處理技術，將樣品的圖像與(yu) 目標圖像進行比較，通過計算出偏差，並將調整命令反饋給位移台，實現微小的位移調整。這種方法適用於(yu) 需要進行精細調整的樣品表麵的形貌或者特征。
感應器控製模式：該模式下，位移台上會(hui) 安裝有感應器，用來檢測樣品的位移和偏差。操作人員可以通過讀取感應器數據，判斷樣品是否需要進行微調，然後下達相應的位移指令。
納米位移台細調模式的選擇，應根據實際的應用場景和需要進行綜合考慮。
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