納米位移台的掃描方式
納米位移台是一種用於(yu) 實現納米級別位移控製和測量的設備，其掃描方式包括單軸掃描和多軸掃描兩(liang) 種。
單軸掃描方式是指在一個(ge) 固定的方向上進行掃描，例如隻在X軸方向上進行掃描，通過改變X軸方向的信號控製位移台上的探針位置來實現納米級別的位移控製和測量。
多軸掃描方式則是指在多個(ge) 方向上進行掃描，例如在X、Y、Z三個(ge) 方向上同時進行掃描，通過改變X、Y、Z三個(ge) 方向上的信號控製位移台上的探針位置來實現更加複雜的位移控製和測量，可以用於(yu) 實現納米級別的三維成像等應用。
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