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納米位移台的校準和定標是確保其位置測量準確性和穩定性的重要步驟，以下是一般的校準和定標方法：
使用參考標準：首先，使用已知精度和穩定性的參考標準進行校準。這些參考標準可以是微米級別的標準，如光柵尺或線尺。
測量標準位置：將參考標準安裝在納米位移台上，並使用儀(yi) 器（如顯微鏡）測量參考標準的位置。
比較測量結果：將納米位移台測量的位置與(yu) 參考標準的位置進行比較，以確定測量誤差和偏差。
調整校準參數：根據比較結果，調整納米位移台的校準參數，如零點偏移、比例因子等，使測量結果與(yu) 參考標準一致。
重複校準步驟：在進行實際測量之前，建議多次重複校準步驟，以確保校準的準確性和穩定性。
定期檢查和校準：定期檢查和校準納米位移台，特別是在長時間使用後或在環境條件發生變化後，以確保其測量精度和穩定性。
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