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納米位移台運動不平穩的原因及解決方法是什麽?

納米位移台運動不平穩的原因及解決方法是什麽?

2023-05-11新聞, 行業資訊
納米位移台運動不平穩可能會導致測量結果不準確,因此需要及時進行排查和解決。以下是納米位移台運動不平穩的一些常見原因及解決方法: 摩擦力過大:納米位移台運動時,如果摩擦力過大,會導致運動不平穩。可以檢查納米位移台運動部分是否需要潤滑或清潔。 負載過大:如果在納米位移台上放置了過重的樣品或者夾具,會使...
納米位移台控製器顯示錯誤代碼怎麽辦?

納米位移台控製器顯示錯誤代碼怎麽辦?

2023-05-11新聞, 行業資訊
當納米位移台控製器顯示錯誤代碼時,一般可以通過以下步驟進行排查和解決: 查閱說明書:首先查看說明書中的錯誤代碼對應表,確定錯誤代碼的含義和可能的原因。 檢查電源和接線:確保納米位移台和控製器的電源和接線正確無誤,並檢查是否有鬆動或損壞的接線。 重新啟動:有時候控製器出現錯誤代碼可能是因為軟件或係統出...
納米位移台運動過程中出現卡滯的原因及解決方法是什麽?

納米位移台運動過程中出現卡滯的原因及解決方法是什麽?

2023-05-11新聞, 行業資訊
納米位移台運動過程中出現卡滯可能有多種原因,以下是一些可能的原因及解決方法: 機械結構問題:如果納米位移台的導軌、螺杆、滑塊等機械部件損壞或受到汙染,可能會導致運動不平穩或卡滯。解決方法是清潔或更換受損部件,並進行適當的潤滑。 電路問題:納米位移台的電路板、電機驅動器等電路問題也可能導致卡滯。解決...
線性納米位移台的分辨率如何評估

線性納米位移台的分辨率如何評估

2023-05-10新聞, 行業資訊
線性納米位移台的分辨率是指其能夠準確測量的位移量。分辨率的評估可以通過以下幾種方法進行: 使用校準器件:可以使用已知長度的校準器件(如光柵標尺、脈衝編碼器等)來檢測線性納米位移台的位移,並比較測量結果來評估分辨率。 使用標準樣品:選擇具有已知特征的標準樣品進行測量,並與已知值進行比較來評估分辨率。 ...
線性納米位移台的安裝與調試

線性納米位移台的安裝與調試

2023-05-10新聞, 行業資訊
線性納米位移台的安裝和調試是使用前的必要步驟,以下是一般的安裝和調試流程: 安裝定位:將線性納米位移台放在預定位置上,將其與其他設備定位好,並固定好螺釘。 安裝控製器:將線性納米位移台的控製器安裝好,並將控製器與電腦連接好。 接線:將線性納米位移台和控製器的電源線、信號線、通訊線等連接好。 電源調試...
納米位移台的校準方法和誤差分析是什麽?

納米位移台的校準方法和誤差分析是什麽?

2023-05-09新聞, 行業資訊
納米位移台的校準方法和誤差分析是保證其測量準確性的重要手段,常見的校準方法和誤差分析如下: 校準方法 (1) 外部標定法:利用已知長度或位移的標準樣品,對納米位移台進行標定和校準。 (2) 內部反饋法:納米位移台內部設置有反饋傳感器,可以實時反饋位移信息,通過對反饋信息進行校準。 (3) 交叉校準法:通過交叉校...
納米位移台的精度和穩定性如何評估

納米位移台的精度和穩定性如何評估

2023-05-09新聞, 行業資訊
納米位移台的精度和穩定性是影響其測量和應用效果的重要指標,可以通過以下幾種方法進行評估: 測量重複性:可以通過對同一位置進行多次測量,比較不同測量結果的差異大小來評估納米位移台的重複性。重複性越好,結果差異越小,代表精度越高。 平移誤差:平移誤差是指納米位移台進行水平移動時,位移台實際位移與理論位...
位移台精度與負載的關係

位移台精度與負載的關係

2023-05-08新聞, 行業資訊
位移台精度與負載之間有一定的關係,一般來說,隨著負載的增加,位移台的精度會有所降低。這是因為位移台在承載過重物體時,需要產生更大的摩擦力來保持穩定,而這些摩擦力會影響位移台的運動精度。 具體來說,位移台精度與負載之間的關係取決於以下幾個因素: 位移台的結構:不同類型的位移台在承載不同負載時,受力情...
位移台精度等級計算方法

位移台精度等級計算方法

2023-05-08新聞, 行業資訊
位移台的精度等級通常由其誤差值決定,誤差值越小,精度等級越高。精度等級可以根據國際標準ISO 230-1:1996來進行計算。該標準規定了機床和機械加工中使用的位移台的精度等級分類方法。 根據ISO 230-1:1996標準,位移台的精度等級可以通過對位移台在不同位置上的誤差進行測試和計算來確定。標準規定了位移台在不同位置...
納米位移台的掃描方式

納米位移台的掃描方式

2023-05-05常見問題, 新聞
納米位移台是一種用於實現納米級別位移控製和測量的設備,其掃描方式包括單軸掃描和多軸掃描兩種。 單軸掃描方式是指在一個固定的方向上進行掃描,例如隻在X軸方向上進行掃描,通過改變X軸方向的信號控製位移台上的探針位置來實現納米級別的位移控製和測量。 多軸掃描方式則是指在多個方向上進行掃描,例如在X、Y、Z三個...